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ENCYCLOPÉDIE DE LA RADIOÉLECTRONIQUE ET DU GÉNIE ÉLECTRIQUE Testeur de diodes et transistors bipolaires. Encyclopédie de l'électronique radio et de l'électrotechnique
Encyclopédie de l'électronique radio et de l'électrotechnique / Technique de mesure La plupart des testeurs modernes (multimètres) ont des fonctions intégrées pour tester les diodes et parfois les transistors. Mais si votre testeur ne dispose pas de ces fonctions, vous pouvez assembler vous-même un testeur de diodes et de transistors. Vous trouverez ci-dessous un projet de testeur basé sur le microcontrôleur PIC16F688. La logique de test des diodes est très simple. Une diode est une jonction PN connue pour ne conduire le courant que dans un seul sens. Par conséquent, une diode de travail conduira le courant dans une direction. Si la diode conduit le courant dans les deux sens, la diode est inopérante - cassée. Si la diode ne conduit pas dans les deux sens, la diode ne fonctionne pas non plus. La mise en œuvre du circuit de cette logique est illustrée ci-dessous.
Cette logique peut facilement être adaptée pour un test de transistor bipolaire qui contient deux jonctions PN : une entre la base et l'émetteur (jonction BE) et une entre la base et le collecteur (jonction BC). Si les deux jonctions conduisent le courant dans un seul sens, le transistor fonctionne, sinon il ne fonctionne pas. Nous pouvons également identifier le type d'un transistor pnp ou npn en déterminant le sens de conduction du courant. Pour tester les transistors, le microcontrôleur utilise 3 entrées/sorties
Séquence de test des transistors: 1. Activez la sortie (réglée sur un) D2 et lisez D1 et D3. S'il y a une unité logique sur D1, la jonction BE conduit le courant, sinon elle ne le fait pas. Si D3 vaut 1, alors le BC conduit le courant, sinon ce n'est pas le cas.
De plus, si BE et BC conduisent le courant, alors le transistor est de type npn et fonctionne. Si, cependant, EB et CB conduisent le courant, alors le transistor de type pnp fonctionne également. Dans tous les autres cas (par exemple, EB et BE conduisent le courant, ou les deux transitions de BC et CB ne conduisent pas, etc.), le transistor est dans un état non fonctionnel. Schéma de principe du testeur de diodes et de transistors et description
Le circuit du testeur est très simple. L'appareil dispose de 2 boutons de commande : Select (sélection) et Detail (plus). En appuyant sur le bouton Select, le type de test est sélectionné : test de diode ou de transistor. Le bouton Detail ne fonctionne qu'en mode test transistor, l'écran LCD indique le type de transistor (npn ou pnp) et l'état de conduction des jonctions du transistor. Les trois pattes du transistor testé (émetteur, collecteur et base) sont reliées à la terre par une résistance de 1 kΩ. Pour les tests, les broches RA0, RA1 et RA2 du microcontrôleur PIC16F688 sont utilisées. Pour tester la diode, seules deux sorties sont utilisées : E et K (marquées D1 et D2 sur le schéma).
Programme Le logiciel de ce projet est écrit à l'aide du compilateur MikroC. Lors des tests et de la programmation, soyez prudent et respectez les réglages des entrées/sorties du MK (RA0, RA1 et RA2). ils changent souvent pendant le fonctionnement. Avant de régler une sortie sur 1, assurez-vous que les deux autres E/S du MCU sont définies comme entrées. Sinon, des conflits d'entrées/sorties du MK sont possibles.
/*
Project: Diode and Transistor Tester
Internal Oscillator @ 4MHz, MCLR Enabled, PWRT Enabled, WDT OFF
Copyright @ Rajendra Bhatt
November 9, 2010
*/
// LCD module connections
sbit LCD_RS at RC4_bit;
sbit LCD_EN at RC5_bit;
sbit LCD_D4 at RC0_bit;
sbit LCD_D5 at RC1_bit;
sbit LCD_D6 at RC2_bit;
sbit LCD_D7 at RC3_bit;
sbit LCD_RS_Direction at TRISC4_bit;
sbit LCD_EN_Direction at TRISC5_bit;
sbit LCD_D4_Direction at TRISC0_bit;
sbit LCD_D5_Direction at TRISC1_bit;
sbit LCD_D6_Direction at TRISC2_bit;
sbit LCD_D7_Direction at TRISC3_bit;
// End LCD module connections
sbit TestPin1 at RA0_bit;
sbit TestPin2 at RA1_bit;
sbit TestPin3 at RA2_bit;
sbit Detail at RA4_bit;
sbit SelectButton at RA5_bit;
// Define Messages
char message1[] = "Diode Tester";
char message2[] = "BJT Tester";
char message3[] = "Result:";
char message4[] = "Short";
char message5[] = "Open ";
char message6[] = "Good ";
char message7[] = "BJT is";
char *type = "xxx";
char *BE_Info = "xxxxx";
char *BC_Info = "xxxxx";
unsigned int select, test1, test2, update_select, detail_select;
unsigned int BE_Junc, BC_Junc, EB_Junc, CB_Junc;
void debounce_delay(void){
Delay_ms(200);
}
void main() {
ANSEL = 0b00000000; //All I/O pins are configured as digital
CMCON0 = 0?07 ; // Disbale comparators
PORTC = 0;
PORTA = 0;
TRISC = 0b00000000; // PORTC All Outputs
TRISA = 0b00111000; // PORTA All Outputs, Except RA3 (I/P only)
Lcd_Init(); // Initialize LCD
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR); // CLEAR display
Lcd_Cmd(_LCD_CURSOR_OFF); // Cursor off
Lcd_Out(1,2,message1); // Write message1 in 1st row
select = 0;
test1 = 0;
test2 = 0;
update_select = 1;
detail_select = 0;
do {
if(!SelectButton){
debounce_delay();
update_select = 1;
switch (select) {
case 0 : select=1;
break;
case 1 : select=0;
break;
} //case end
}
if(select == 0){ // Diode Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message1);
Lcd_Out(2,2,message3);
update_select=0;
}
TRISA = 0b00110100; // RA0 O/P, RA2 I/P
TestPin1 = 1;
test1 = TestPin3 ; // Read I/P at RA2
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110001; // RA0 I/P, RA2 O/P
TestPin3 = 1;
test2 = TestPin1;
TestPin3 = 0;
if((test1==1) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message4);
}
if((test1==1) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==1)){
Lcd_Out(2,10,message6);
}
if((test1==0) && (test2 ==0)){
Lcd_Out(2,10,message5);
}
} // End if(select == 0)
if(select && !detail_select){ // Transistor Tester
if(update_select){
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,2,message2);
update_select = 0;
}
// Test for BE and BC Junctions of n-p-n
TRISA = 0b00110101; // RA0, RA2 I/P, RA1 O/P
TestPin2 = 1;
BE_Junc = TestPin1 ; // Read I/P at RA0
BC_Junc = TestPin3; // Read I/P at RA2
TestPin2 = 0;
// Test for EB and CB Junctions of p-n-p
TRISA = 0b00110110; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin1 = 1;
EB_Junc = TestPin2;
TestPin1 = 0;
TRISA = 0b00110011; // RA0 O/P, RA1/RA2 I/P
TestPin3 = 1;
CB_Junc = TestPin2;
TestPin3 = 0;
if(BE_Junc && BC_Junc && !EB_Junc && !CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "n-p-n";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else
if(!BE_Junc && !BC_Junc && EB_Junc && CB_Junc){
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,message6);
type = "p-n-p";
BE_info = "Good ";
BC_info = "Good ";
}
else {
Lcd_Out(2,2,message3);
Lcd_Out(2,10,"Bad ");
type = "Bad";
}
}
if(select && !Detail){
debounce_delay();
switch (detail_select) {
case 0 : detail_select=1;
break;
case 1 : detail_select=0;
break;
} //case end
update_select = 1;
}
if(detail_select && update_select){
// Test for BE Junction open
if(!BE_Junc && !EB_Junc){
BE_info = "Open ";
}
// Test for BC Junction open
if(!BC_Junc && !CB_Junc){
BC_info = "Open ";
}
// Test for BE Junction short
if(BE_Junc && EB_Junc){
BE_info = "Short";
}
// Test for BC Junction short
if(BC_Junc && CB_Junc){
BC_info = "Short";
}
Lcd_Cmd(_LCD_CLEAR);
Lcd_Out(1,1,"Type:");
Lcd_Out(1,7,type);
Lcd_Out(2,1,"BE:");
Lcd_Out(2,4,BE_info);
Lcd_Out(2,9,"BC:");
Lcd_Out(2,12,BC_info);
update_select = 0;
} // End if (detail_select)
} while(1);
}
Auteur : Koltykov A.V. ; Publication : cxem.net
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